普泰克-半導體芯片溫度測試維修保養

三、測試設備維修保養

1. 高低溫探針臺保養

• 日常保養

• 探針：每次使用后用無水乙醇擦拭探針針尖，去除氧化層和污染物，避免針尖磨損或接觸不良；定期檢查探針臂張力，防止變形。

• 樣品臺：清潔表面污漬（用軟布蘸異丙醇），檢查導熱涂層（如鍍金層）是否脫落，脫落需重新鍍膜以保證溫度均勻性。

• 溫度控制系統：每周檢查制冷 / 加熱管路（如液氮管道）是否泄漏，加熱絲是否老化；每月校準溫度傳感器（用標準溫度計對比）。

• 定期維護（每 6-12 個月）

• 校準溫度穩定性：用精密測溫儀（如 FLUKE 5520A）在關鍵溫度點（如 - 40℃、25℃、125℃）驗證波動是否≤±0.1℃。

• 真空 / 氣氛系統：檢查真空泵油位，更換老化密封圈，確保真空度達標（≤10??Pa），避免低溫下樣品結霜。

2. 紅外熱像儀保養

• 鏡頭維護：用專用鏡頭紙蘸鏡頭清潔劑擦拭，避免指紋或灰塵影響成像；長期不用時蓋好鏡頭蓋。

• 傳感器校準：每年送廠校準，確保測溫精度（可通過黑體爐在 - 50~300℃范圍內驗證）。

• 電池與存儲：鋰電池需定期充放電（每月 1 次），避免長期虧電；存儲環境需干燥（濕度≤60%）、無腐蝕性氣體。

3. 熱電偶 / 熱電阻保養

• 檢查接線端子是否松動或氧化（氧化會導致接觸電阻增大，誤差增加），定期用細砂紙打磨并涂抹導電膏。

• 發現熱電偶絲破損、絕緣層老化時及時更換（尤其是高溫下使用的 K 型熱電偶，壽命約 1000 小時）。